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Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

XPS ist eine quantitative spektroskopische Oberfläche chemische Analyse-Technik verwendet, um empirische zu schätzen   Formeln [109,140 - 142]. XPS ist auch als Elektronenspektroskopie für die chemische Analyse (ESCA) bekannt [141].

XPS spielt eine einzigartige Rolle bei der Bereitstellung von qualitativen, quantitativen / semi-quantitativen und speziation   Informationen zur Sensoroberfläche [143]. XPS wird unter Hochvakuumbedingungen durchgeführt.

Die Röntgenbestrahlung des Nanomaterials führt zur Emission von Elektronen und zur Messung der   Kinetische Energie und die Anzahl der Elektronen, die aus der Oberfläche der Nanomaterialien entweichen, gibt XPS   Spektren [109,140 - 142]. Die Bindungsenergie kann aus kinetischer Energie berechnet werden. Besondere Gruppen   Von Starburst-Makromolekülen wie P = S, aromatische Ringe, C- O und C = O identifiziert werden können und   Gekennzeichnet durch XPS [144].


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